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薄膜光学 光学薄膜参数测试

【摘要】:正O484.5 2005053692 自适应模拟退火结合共轭梯度法求解薄膜厚度=Thin film thickness determination using adaptive simulated an- nealing algorithm and conjugate gradient algorithm[刊, 中]/刘鹏(浙江大学光电系,现代光学仪器国家重点实验 室.浙江,杭州(310027)),刘玉玲…∥光电工程.-2005, 32(6).-93-96

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