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用光切显微镜测量表面粗糙时常见的问题及消除方法

崔向群  
【摘要】:正 用光切显微镜(也叫双管显微镜)测量表面粗糙度,采用的方法叫光切法。测量粗糙度时,目镜视场内成像质量的好坏,以及仪器使用方法的正确与否,将直接影响测量结果。因此,必须精心调整仪器,提高测量精度。本文对实验课中仪器调整及测量中常见的一些问题及消除方法作一介绍。

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