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ICP-AES法和ICP-MS法测定金属钴粉中杂质元素的比较

袁春伟  
【摘要】:采用硝酸分解样品,运用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)分别测定了金属钴粉样品中的杂质元素,并对这两种分析方法进行了比较。

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1 马鹏程;原子吸收光谱法测定金属钴粉中杂质元素[J];理化检验(化学分册);2005年06期
2 菅豫梅;王培;;ICP-AES法快速测定金属钴粉中的九种杂质元素[J];湖南有色金属;2009年06期
3 张健;硬质合金用钴粉的生产工艺比较[J];有色金属;1998年03期
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