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用正电子湮没寿命谱法研究铝阳极氧化膜

姚士冰  张智良  周绍民  方江陵  
【摘要】:退火纯铝(99.99%)在15%H_2SO_4中于不同电解条件下进行阳极氧化,然后测其正电子湮没寿命谱,寿命谱拟合为三个寿命成份,指认第二寿命成分为e~+在氧化膜中的湮没。从I_2随电解条件的变化推知膜厚与槽压近似成正比,在恒温和固定槽压条件下,膜厚只能达到某极限值。根据τ_2的变化推断出,使用较高槽压或延长电解时间均使膜的结晶度提高,它诱发了裂缝或微洞的形成,导致膜体松散。根据上述结论进一步分析提高膜机械性能的可能途径。

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