全内反射式基因芯片荧光检测系统的研制
【摘要】:荧光信号的检测是基因芯片技术环节中的一个关键.目前,商业化的检测设备价格昂贵,限制了基因芯片技术的推广和普及.本实验组在开发廉价、便携式检测设备的过程中,设计出全内反射式基因芯片荧光检测系统,该系统与传统的落射和透射式激发方式不同,采用全内反射式激发光路,同时改造了柯勒照明,实现了激发光路和荧光采集成像光路的完全分离,有效提高了荧光图像的对比度和系统的灵敏度,降低了对元器件性能的要求.该系统设计新颖、结构紧凑,将具有广阔的市场前景.
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