HPGeγ谱仪系统死时间校正方法的实验研究
【摘要】:给出了HPGeγ谱仪系统死时间校正的一种实用方法.用强源干扰找到了HPGe γ谱仪系统百分死时间与计数率丢失校正因子的关系,使该系统允许计数率大大提高,从而解决了放射性定量测量中的一些困难.
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