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存储器软错误问题的系统解决方法

D.C.Bossen  M.Y.Hsiao  俞书良  
【摘要】:高密度及高性能存储器芯片的设计经常会产生一些新的可靠性问题;例如,高密度RAM和CCD芯片的α粒子问题便是一个很好的例子,α粒子引起的软错误会与已经存在的硬错误联结在一起,产生双位错,而此双位错是不能利用常规的单错纠正双错检测码来纠错的。本文绘出一个完整的系统方法,这种基于纠错码和系统维护策略的方法将减少系统级的主存失效率,其效果就如同α粒子问题未产生过一样。这种系统解决方法的设计可与大多数现存的存储器设计相兼容,因而使得实现这种方法所需附加的成本将是最小的。本文中描述的方法是利用单错纠正双错检测码的能力来检测出一个硬的和一个软的错误;然后使用一个微码和硬件算法纠正这软硬两个错误。本文也包括了

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