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强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验研究

侯民胜  陈亚洲  
【摘要】:为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应 ,在GTEM室内进行了辐照效应实验。实验表明 ,单片机系统在强电磁脉冲作用下 ,会出现“死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象。在实验基础上 ,对单片机系统的各种效应进行了深入研究。

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1 侯民胜,陈亚洲;强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验研究[J];航天电子对抗;2001年05期
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