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Si-PIN硅条带探测器的电子学测试

邹鸿  陈鸿飞  邹积清  宁宝俊  施伟红  田大宇  张录  
【摘要】:采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试。Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量。介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的串扰问题。

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