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Si-PIN硅条带探测器的电子学测试
邹鸿
陈鸿飞
邹积清
宁宝俊
施伟红
田大宇
张录
【摘要】:
采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试。Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量。介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的串扰问题。
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