光锥与CCD耦合效率的理论分析
【摘要】:光锥与CCD的耦合技术是研制ICCD图像传感器的关键技术 ,本文主要从理论上分析并讨论了光锥与CCD耦合器件的耦合效率及其影响因素 ,进一步分析讨论了耦合效率对耦合器件信噪比的影响 证明了光锥与CCD的耦合效率不仅降低ICCD探测效率而且降低ICCD信噪比 ,并提出了提高光锥与CCD耦合效率的方法和途径
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