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功率谱密度函数评价方法探讨

徐芳  魏全忠  伍凡  
【摘要】:高能量、高分辨力光学系统给传统的光学面形评价指标提出了新的要求。各项测试技术 ,信息理论的更新给我们的研究提供了可能。介绍采用 PSD功率谱密度函数来评价光学元件面形中频误差

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