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用共线光热偏转技术测量光学薄膜的微弱吸收

吴周令  唐晋发  施柏煊  
【摘要】:用具有高灵敏的共线光热偏转技术研究SiO_2、ZrO_2、MgF_2、ZnS等单层光学薄膜的吸收特性,测得它们的吸收率.实验结果与激光量热法及横向光热偏转技术符合良好,表明共线光热偏转技术是测量光学薄膜弱吸收的较理想方法.

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1 吴周令,范正修,唐晋发;光学薄膜吸收损耗的研究[J];光学学报;1989年08期
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