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固态检测器-ICP-AES中的计算机差谱改进技术──Ⅰ.原理和实验

刘志红  陈元  张展霞  
【摘要】:本文使用固态检测器-光电二极管阵列(PDA)或电荷耦合器件(CCD)在ICP-AES上实现了无需知道基体浓度情况下对复杂组分中微量元素进行测定的计算机差谱改进法。用C语言编写了实施差谱技术以及实验室例行分析的软件,探讨了方法的原理,对V基体中Al,Al和Mg基体中V的测定结果表明,该差谱技术能准确消除复杂基体产生的光谱干扰。

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