用低温光谱方法揭示氢键的结构特征

【摘要】：本文提出一种利用红外光谱方法揭示晶态物质中分子的氢键结构的新方法。用KBr压片和氟油研磨法制备用于红外光谱测量的样品 ,测得的光谱有时基本相同 ,有时却表现出明显的差别。对此现象一直没有一个十分满意的解释。我们用低温红外光谱法证明压力诱导晶格中氢键网络的微细变化是造成不同制样法测得的光谱不同的原因。具有平面氢键结构的晶体不能有效地抵御施加于样品上的应力 ,易于在较低的外力作用下发生结构畸变 ,因此 ,用KBr压片和氟油研磨法制备样品的与氢键相关的特征谱带会表现出明显的不同。当样品的氢键具有三维空间结构时 ,其氢键系统可以有效地抵抗来自各个方向的压力 ,故不同制样法所得的光谱基本上是一致的。据此 ,我们提出 ,不同制样法所得到的与氢键相关的特征谱带差别可以作为一种判别样品的氢键是否具有三维空间结构的一个判据。