扫描电镜——微观地质学研究的深入进展
【摘要】:扫描电镜——微观地质学研究的深入进展张汝藩(中国科学院地质研究所,北京100029)自七十年代我国地质领域开始应用SEM,二十多年来,特别是在八十年代性能较好(分辨率为60),并带有X射线能谱仪的SEM被使用,随着工作的不断广泛深入,在地质科研和生...
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