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基于时空冗余的容软错误锁存器设计

黄正峰  申思远  彭小飞  闫爱斌  鲁迎春  
【摘要】:随着集成电路工艺尺寸的不断降低,电路对空间辐射引起的单粒子效应越来越敏感。为了提高电路的可靠性,基于时间和空间冗余技术提出了一种高性能的容软错误锁存器DSH-CG。该锁存器包括两个内部冗余模块和一个由C单元与保持器组成的输出级,不但可以过滤上游组合逻辑传播过来的SET脉冲,而且对SEU完全免疫。并且该锁存器适用于门控时钟电路或低频电路。SPICE仿真结果表明,与同类锁存器相比,该锁存器平均延迟增加32.4%,可过滤的SET脉冲宽度平均增加73.5%,并且功耗平均降低44.5%,功耗延迟积(PDP)平均降低31.5%,面积平均增加28.6%。

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