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存储器、锁存器

【摘要】:正 Y2002-63294 03017982001年存储器技术、设计与测试会议录=2001 IEEEinternational workshop on memory technology,designand testing[会,英]/IEEE Computer Society.—2001.—108P.(E)本会议录收集了于2001年8月6~7日在加州San Jose 召开的存储器技术、设计与测试会议上发表的14篇论文,内容涉及存储器设计,存储器机内自测,存储器成品率与可制造性,冗余与误差控制。故障模型与多端口 SRAM 测试。

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5 闻欣;部机关各司局继续传达学习会议精神[N];中国交通报;2006年
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7 本报特约记者 郑亚文 本报通讯员 姜海峰;发挥优势 实现行车靠前指挥[N];人民铁道;2008年
8 ;BMS设计帮助电池组规避失效风险[N];中国电子报;2009年
9 本报记者 冯晓伟;电表芯片技术应全面提升[N];中国电子报;2010年
10 本报记者 陈熙涵;是翻译还是背叛[N];文汇报;2003年
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