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超合金萃取小颗粒相无标样X射线萤光分析

胜美  仝洋深  
【摘要】:本文在X射线萤光谱仪上使用纯元素块状标样精确地分析了用电化学方法从超合金中萃取的少量粒状物质。这种物质的量少于每平方厘米几百微克并且是不均匀的。摊在过滤托膜上萃取颗粒可近似地看成一层薄膜。这些粒子向托膜的渗透是可以忽略的,并且不需要考虑对这种过滤膜的吸收校正。在计算中,所使用的x光源的谱线分布是从对连续x射线谱使用带自吸收校正的Kramer公式计算和特征x射线的测定得到的。强度-浓度计算方法基于基本参数方法。如果相对强度小于或等于0.04,由于不需要基体校正则简化了这种计算。这种方法在化学分析中给出了良好的结果。

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