一般性问题
【摘要】:
【关键词】:
一般性问题 灵敏度 微电子 半导体 薄膜制备 可逆性 氧敏特性 直流磁控溅射 不同温度 河北工业大学
【分类号】:TN304;
【DOI】:CNKI:SUN:WCWZ.0.2005-05-000
【正文快照】:
【分类号】:TN304;
【DOI】:CNKI:SUN:WCWZ.0.2005-05-000
【正文快照】:
TN032005050001TiO2薄膜制备及其氧敏特性/戴振清,孙以材,潘国峰,孟凡斌,李国玉(河北工业大学微电子研究所)//半导体学报.―2005,26(2).―324~328.采用直流磁控溅射法制备TiO2薄膜,在不同温度下对薄膜进行退火,研究了薄膜晶体结构随退火温度的转化情况.对TiO2薄膜氧敏器件特
CAJViewer7.0阅读器支持所有CNKI文件格式,AdobeReader仅支持PDF格式
| 【相似文献】 | ||
|
|||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||
|
|||||||||
|
|||||||||
|
|||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||
|
|||||||
|
|||||||
|
|||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||


