| | | | | 树脂封装中湿气浸入和成形缺陷的研究 | | | 丁黎光;丁伟;吴德林 | | | 介绍了电子元件的封装技术。主要针对树脂封装进行研究,分析湿气浸入、成形缺陷及表现形式,并提出防止措施,以利于对我国的微型包装中的电子封装及微电子业有所促进。 【作者单位】:广西工学院 柳州545006(丁黎光);重庆金映数控设备制造有限公司 重庆401120(丁伟;吴德林) 【关键词】:树脂封装;湿气和缺陷;防止 【基金】:广西壮族自治区自然科学基金资助项目(桂科自0481009、桂科基0342015) 【分类号】:TN405 【DOI】:cnki:ISSN:1001-3563.0.2006-03-027 【正文快照】: 各种电路元件(尤其是微电子件)被称为“工业之米”。一般用户需要的并不是柔嫩易损的裸露体,而是带有密封的包装外壳(简称封装体)。这类包装技术的研究,不仅是微电子元件发展的需要,也是包装工程中对微型包装研究的需要。目前,微电子产业逐渐演变为设计、制造和封装三个相对独立的产业。与前二者相比,电子封装涉及范围广,特别是与之相关包装的基础材料是“硬中之硬”亟待研究和发展。电子封装已成为整个微电子产业的瓶颈,在全世界,电子信息产业的竞争从某种意义上说,将主要体现在电子封装上[1]。随着电子元器件向轻、薄、短、小、高性能方向… | | | 推荐 CAJ下载 PDF下载 | | | CAJViewer7.0阅读器支持所有CNKI文件格式,AdobeReader仅支持PDF格式 | | | | Research on the Moisture and Defects in Resin Encapsulation | | | DING Liguang~1;DING Wei~2;WU Deling~2(1.Guangxi University of Technology;Liuzhou 545006;China; 2.Chongqing Jinying N/C Equipment Inc;Chongqing 401120;China) | | | The encapsulation technique of electronic components was introduced.Aiming at resin encapsulation,the intrusion of moisture,the molding defects and forms of expression were analyzed.Some prevention measures were put forward to promote the electronic encapsulation in mini-packing and the micro-electronics industry in our country. 【Keyword】:resin encapsulation;moisture;defects;prevention |
| | | | | | 1 | 丁黎光; 激光封装多芯片PCB及可靠性 [A];2006年中国机械工程学会年会暨中国工程院机械与运载工程学部首届年会论文集 [C]; 2006年 |
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