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《中国核科技报告》 1995年00期
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特征X射线源及其应用研究

李福全  
【摘要】:介绍了在低能范围内利用放射性同位素源发出的初级射线,照射和激发靶片元素产生的特征X射线的规律性;探讨了提高γ,X射线转换率的途径及减少散射射线影响的因素,包括选择不同规格的初级放射源、不同的靶片形式及源靶相对几何位置等因素对产额的影响;找出了提高信噪比的条件。按此结果制成的靶式源,通过更换靶材可以相当自由地选取X射线能量。该源可广泛用于核仪表和其他场合,弥补了现有同位素源能量不足的缺陷。作为应用之一制成的核辐射测厚仪,已成功地实现了在很宽的范围内对不同材质的厚度测量,丰富和扩大了这一应用领域,揭示了特征X射线新的应用前景。
【作者单位】核工业大连应用技术研究所
【基金】:国家自然科学基金资助项目
【分类号】:TL81

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