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数字电路测试生成的可满足性方法研究

曾成碧  陈光  
【摘要】:本文介绍了可满足性的测试向量生成 (SAT- ATPG)算法。通过控制输入跟踪算法 (CITA)嵌入 SAT- ATPG中 ,减少了 CNF的构成时间和搜索空间 ,加速测试生成 ,减轻故障压缩工作量 ,又不损失最终测试集的精简

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