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边缘扫描测试研究

潘中良  陈光  
【摘要】:边缘扫描测试是对大规模集成电路(VLSI)进行测试的一种新的基于可测性设计的测试技术,能极大地降低VLSI测试生成的复杂性,在电路设计与测试领域,近年来得到广泛关注。本文讨论了这种测试技术的产生背景,实现方法,及与常规方法相比存在的优势,并就其今后的发展将解决的问题作了研究。

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