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《物理学报》 1982年05期
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用高分辨电子显微术直接鉴定ZnS多型体中堆垛序列和缺陷

康振川  
【摘要】:用倾斜束照明的电子显微术在分辨率为3.12A的水平上摄照了点阵象,直接观察了ZnS多型体的堆垛次序,这方法被用于揭示ZnS堆垛的无序和层错。
【作者单位】北京市冶金研究所

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