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《微处理机》 2007年06期
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集成电路并行测试适配器设计技术

侯政嘉  刘炜  石志刚  吉国凡  
【摘要】:重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。

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【参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 李勇明,曾孝平;高频PCB设计过程中的干扰分析及对策[J];电子工程师;2002年12期
【共引文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 周涛;姚炯辉;;对高频PCB设计的研究[J];电子工程师;2006年11期
中国硕士学位论文全文数据库 前7条
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2 黄礼军;基于DSP的电力电量参数测量系统的研究和开发[D];河海大学;2004年
3 王伟庆;基于TMS320DM270的CMOS成像系统的设计与实现[D];北京邮电大学;2006年
4 何思远;基于无线传感器网络的瓦斯监测系统的研究[D];昆明理工大学;2007年
5 任波;GPON系统局端硬件设计与实现[D];武汉理工大学;2007年
6 王松月;基于ARM920T嵌入式控制系统设计与实现[D];北京邮电大学;2007年
7 陈智歆;基于串口通信的色选机系统[D];华侨大学;2007年
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