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《同济大学学报(自然科学版)》 2002年10期
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一款通用CPU的存储器内建自测试设计

何蓉晖  李华伟  李晓维  宫云战  
【摘要】:存储器内建自测试 (memorybuilt-inself-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法 .在一款通用CPU芯片的可测性设计 (design -for-testability ,DFT)中 ,MBIST作为cache和TLB的存储器测试解决方案被采用 ,以简化对布局分散、大小不同的双端口SRAM的测试 .5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作 ,测试结果由扫描链输出 ,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小 .所采用的march 13n算法确保了对固定型故障、跳变故障、地址译码故障和读写电路的开路故障均达到 10 0 %的故障覆盖率 .

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【引证文献】
中国期刊全文数据库 前3条
1 刘峰;;嵌入式只读存储器的内建自测试设计[J];计算机测量与控制;2006年05期
2 鉴海防,王占和,李印增,张昭勇;SoC嵌入式flash存储器的内建自测试设计[J];微电子学与计算机;2005年04期
3 郝延红,王家礼,方葛丰;存储器故障诊断算法的研究与改进[J];现代电子技术;2005年10期
中国硕士学位论文全文数据库 前6条
1 周敏;通用微处理器的可测性设计及实现[D];国防科学技术大学;2005年
2 檀彦卓;芯片验证测试及失效分析技术研究[D];中国科学院研究生院(计算技术研究所);2005年
3 朱定飞;X型CPU内建自测试系统的设计与实现[D];国防科学技术大学;2006年
4 邓勤学;JX5芯片测试码的产生及故障模拟[D];国防科学技术大学;2005年
5 田虹;嵌入式128Kb SRAM的研究与设计[D];西北大学;2002年
6 邓禹丹;数字电路测试生成平台研究与可测性设计的应用[D];南京航空航天大学;2007年
【参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 李华伟,李晓维,尹志刚,吕涛,何蓉晖;可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用[J];计算机工程与应用;2002年16期
【共引文献】
中国期刊全文数据库 前2条
1 韩银和,李晓维,罗飞茵,林建京,陈宇川,朱小荣;芯片验证分析及测试流程优化技术[J];计算机辅助设计与图形学学报;2005年10期
2 刘峰;;嵌入式只读存储器的内建自测试设计[J];计算机测量与控制;2006年05期
中国重要会议论文全文数据库 前6条
1 杨修涛;鲁巍;李晓维;;存储器内建自测设计与分析[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
2 吕涛;李晓维;;异步逻辑的可测试性设计技术[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
3 韩银和;李华伟;李晓维;;芯片的失效分析及基于其的测试调度技术[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
4 董婕;李吉;檀彦卓;徐勇军;李晓维;;通用CPU的可测试性技术综述[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
5 檀彦卓;徐勇军;韩银和;李华伟;李晓维;;面向存储器核的内建自测试[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
6 韩银和;李晓维;罗飞茵;林建京;陈宇川;朱小龙;;芯片的验证分析及测试流程优化技术[A];全国第13届计算机辅助设计与图形学(CAD/CG)学术会议论文集[C];2004年
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 张弘;面向系统芯片测试的设计优化技术研究[D];西安电子科技大学;2004年
中国硕士学位论文全文数据库 前6条
1 高树静;嵌入式微处理器可测性设计研究与实现[D];青岛大学;2003年
2 孟庆;SOC设计中IP核的测试方法与应用[D];浙江大学;2004年
3 颜伟成;AVS解码芯片外围接口设计[D];华中科技大学;2005年
4 马伟剑;SoC芯片测试效率和成品率的研究和应用[D];浙江大学;2006年
5 檀彦卓;芯片验证测试及失效分析技术研究[D];中国科学院研究生院(计算技术研究所);2005年
6 赵琼;32位RISC CPU运算模块的设计及可测性设计[D];湖南大学;2006年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 王宁,李桂祥,张尊泉;边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用[J];半导体技术;2003年10期
2 成立,王振宇,高平,祝俊;VLSI电路可测性设计技术及其应用综述[J];半导体技术;2004年05期
3 须自明;苏彦鹏;于宗光;;基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计[J];半导体技术;2007年03期
4 张宏伟,蔡金燕,封吉平;PCB可测性设计[J];华北工学院测试技术学报;2001年01期
5 王晓琴;黑勇;吴斌;乔树山;;嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究[J];电子器件;2005年04期
6 胡瑜,韩银和,李晓维;SOC可测试性设计与测试技术[J];计算机研究与发展;2005年01期
7 李华伟,李晓维,尹志刚,吕涛,何蓉晖;可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用[J];计算机工程与应用;2002年16期
8 徐国强,王玉艳,马鹏,章建雄;基于微处理器的可测性设计[J];计算机工程;2002年09期
9 韩银和,李晓维,罗飞茵,林建京,陈宇川,朱小荣;芯片验证分析及测试流程优化技术[J];计算机辅助设计与图形学学报;2005年10期
10 程玲,陈护勋;存储器测试算法的实现[J];计算机与数字工程;1998年05期
中国硕士学位论文全文数据库 前2条
1 任爱玲;嵌入式memory内建自测试算法[D];东南大学;2005年
2 姚俊;基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究[D];哈尔滨工程大学;2007年
【二级引证文献】
中国硕士学位论文全文数据库 前3条
1 周涛;面向GS32I的嵌入式平台软件的研究与开发[D];武汉理工大学;2006年
2 石乔林;高速低功耗双端口CMOS SRAM的设计[D];江南大学;2006年
3 姚其爽;高速低功耗嵌入式SRAM研究与设计[D];西北工业大学;2007年
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 石磊;王小力;;一种基于存储器故障原语的March测试算法研究[J];微电子学;2009年02期
2 饶全林;何春;饶青;刘辉华;;一款雷达信号处理SOC芯片的存储器内建自测试设计[J];微电子学与计算机;2008年07期
3 宋毅;阳辉;方葛丰;尹新;何怡刚;;嵌入式存储器内建自测试方法[J];微计算机信息;2008年31期
4 殷弼君;黄伟平;;存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用[J];计算机工程;2008年S1期
5 张凡;李济世;陈虹;金德鹏;曾烈光;;弹性分组环专用集成电路的可测性设计[J];微电子学;2006年02期
6 刘峰;;嵌入式只读存储器的内建自测试设计[J];计算机测量与控制;2006年05期
7 朱志辉;游敏惠;;嵌入式存储器在SoC中的可测性设计[J];重庆邮电学院学报(自然科学版);2006年S1期
8 王党辉;高德远;樊晓桠;;一种可重配置的存储器测试控制器设计[J];计算机工程与应用;2006年23期
9 颜学龙;汤敏;;嵌入式双端口SRAM可编程内建自测试结构的设计[J];计算机测量与控制;2006年07期
10 王晓琴;黑勇;吴斌;乔树山;;嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究[J];电子器件;2005年04期
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 檀彦卓;徐勇军;韩银和;李华伟;李晓维;;面向存储器核的内建自测试[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
中国硕士学位论文全文数据库 前5条
1 张艳;数字集成电路可测试性设计研究与应用[D];浙江大学;2010年
2 郭双友;嵌入式存储器测试算法的研究与实现[D];西安电子科技大学;2009年
3 白石;嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究[D];哈尔滨工业大学;2009年
4 曾慧;改进型March算法在内存异常检测中的应用[D];厦门大学;2008年
5 严明;嵌入式微处理器可测性设计与片上调试技术的研究与实现[D];国防科学技术大学;2005年
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