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《金刚石与磨料磨具工程》 2003年04期
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大直径硅片超精密磨削技术的研究与应用现状

康仁科  田业冰  郭东明  金洙吉  
【摘要】:随着IC制造技术的飞速发展 ,为了增加IC芯片产量和降低单元制造成本 ,硅片趋向大直径化 ,原始硅片的厚度也相应增大以保证大尺寸硅片的强度 ;与此相反 ,为了满足IC封装的要求 ,芯片的厚度却不断减小 ,需要对图形硅片进行背面减薄。硅片和芯片尺寸变化所导致的硅片加工量的增加以及对硅片加工精度和表面质量更高的要求 ,使已有的硅片加工技术面临严峻的挑战。本文详细分析了传统硅片加工工艺的局限性 ,介绍了几种大直径硅片超精密磨削加工工艺的原理和特点 ,评述了国内外硅片超精密磨削技术与装备研究和应用的现状及发展方向 ,强调了我国开展大直径硅片超精密磨削技术和装备研究的必要性。
【作者单位】大连理工大学机械学院现代制造技术研究所 大连理工大学机械学院现代制造技术研究所 大连理工大学机械学院现代制造技术研究所 大连理工大学机械学院现代制造技术研究所
【关键词】硅片 磨削 砂轮 磨床 集成电路
【基金】:国家自然科学基金资助项目 (50 2 90 1 0 1 ) 国家“863计划”项目 (2 0 0 2AA42 1 2 30 )
【分类号】:TN305
【DOI】:CNKI:SUN:JGSM.0.2003-04-003
【正文快照】:
1 引言集成电路 (IC)是现代信息产业和信息社会的基础。IC技术是推动国民经济和社会信息化发展最主要的高新技术 ,也是改造和提升传统产业的核心技术。IC的发展离不开基础材料硅片 ,全球 90 %以上的IC都要采用硅片。随着IC制造技术的飞速发展 ,为了增大IC芯片产量 ,降低单元
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【引证文献】
中国期刊全文数据库 前4条
1 葛培琪,孟剑锋,陈举华,章亮炽;硅晶体精密切片技术及相关基础研究[J];工具技术;2005年09期
2 田业冰,郭东明,康仁科,金洙吉;大尺寸硅片自旋转磨削的试验研究[J];金刚石与磨料磨具工程;2004年04期
3 桑波;葛培琪;候志坚;高玉飞;;单晶硅自由磨料线锯切片过程中的流体动压效应[J];润滑与密封;2006年10期
4 刘娟,黄辉,于怡青,徐西鹏;固结磨料加工硅片的技术进展[J];珠宝科技;2004年01期
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 田业冰;郭东明;康仁科;金洙吉;;大尺寸硅片自旋转磨削的试验研究[A];全国生产工程第九届年会暨第四届青年科技工作者学术会议论文集(二)[C];2004年
中国博士学位论文全文数据库 前3条
1 田业冰;大尺寸硅片磨削平整化理论与工艺技术的研究[D];大连理工大学;2007年
2 张银霞;单晶硅片超精密磨削加工表面层损伤的研究[D];大连理工大学;2006年
3 孟剑峰;环形电镀金刚石线锯加工技术及加工质量研究[D];山东大学;2006年
中国硕士学位论文全文数据库 前4条
1 高涛;表面处理金刚石在光固化树脂结合剂磨具中的应用研究[D];浙江工业大学;2004年
2 张胜利;超精密磨削硅片表层损伤检测的试验研究[D];大连理工大学;2006年
3 龚勇波;三种典型脆性材料的研磨实验研究[D];华侨大学;2006年
4 桑波;单晶硅线锯切片过程中的流体动压效应[D];山东大学;2006年
【参考文献】
中国重要会议论文全文数据库 前1条
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【共引文献】
中国期刊全文数据库 前5条
1 康仁科,郭东明,霍风伟,金洙吉;大尺寸硅片背面磨削技术的应用与发展[J];半导体技术;2003年09期
2 罗余庆,康仁科,郭东明,金洙吉;大直径硅晶片化学机械抛光及其终点检测技术的研究与应用[J];半导体技术;2004年06期
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4 田业冰,郭东明,康仁科,金洙吉;大尺寸硅片自旋转磨削的试验研究[J];金刚石与磨料磨具工程;2004年04期
5 刘娟,黄辉,于怡青,徐西鹏;固结磨料加工硅片的技术进展[J];珠宝科技;2004年01期
中国重要会议论文全文数据库 前2条
1 牛新环;王胜利;檀柏梅;刘玉岭;;pH值对ULSI硅衬底抛光速率的影响[A];2006年全国功能材料学术年会专辑[C];2006年
2 田业冰;郭东明;康仁科;金洙吉;;大尺寸硅片自旋转磨削的试验研究[A];全国生产工程第九届年会暨第四届青年科技工作者学术会议论文集(二)[C];2004年
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 霍凤伟;硅片延性域磨削机理研究[D];大连理工大学;2006年
中国硕士学位论文全文数据库 前3条
1 唐克岩;硅片自旋转磨削面型仿真与实验研究[D];大连理工大学;2006年
2 周玉敏;硅片传输机器人控制系统的研究与开发[D];大连理工大学;2006年
3 龚勇波;三种典型脆性材料的研磨实验研究[D];华侨大学;2006年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 翁寿松;300mm晶圆芯片制造技术的发展趋势[J];半导体技术;2004年01期
2 罗余庆,康仁科,郭东明,金洙吉;大直径硅晶片化学机械抛光及其终点检测技术的研究与应用[J];半导体技术;2004年06期
3 常美茹;;线切割机加工半导体晶片质量控制的研究[J];半导体技术;2006年03期
4 易晓剑;我国半导体硅材料工业现状及发展对策[J];湖南有色金属;2004年01期
5 解振华,魏昕,黄蕊慰,熊伟;半导体晶片的金刚石工具切割技术[J];金刚石与磨料磨具工程;2004年01期
6 李岗,熊猛;浅析灰色系统的发展及其展望[J];四川建筑科学研究;2004年01期
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8 陈杨,陈建清,陈志刚;超光滑表面抛光技术[J];江苏大学学报(自然科学版);2003年05期
9 赵永武,刘家浚;半导体芯片化学机械抛光过程中材料去除机理研究进展[J];摩擦学学报;2004年03期
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中国重要会议论文全文数据库 前2条
1 田业冰;郭东明;康仁科;金洙吉;;大尺寸硅片自旋转磨削的试验研究[A];全国生产工程第九届年会暨第四届青年科技工作者学术会议论文集(二)[C];2004年
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中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 张银霞;单晶硅片超精密磨削加工表面层损伤的研究[D];大连理工大学;2006年
中国硕士学位论文全文数据库 前3条
1 杨利军;大尺寸硅片真空夹持系统的研究[D];大连理工大学;2005年
2 李伟健;超精密磨床监控系统的设计与开发[D];大连理工大学;2005年
3 田业冰;硅片超精密磨削表面质量和材料去除率的研究[D];大连理工大学;2005年
【二级引证文献】
中国期刊全文数据库 前3条
1 吴东江;曹先锁;王强国;王奔;高航;康仁科;;KDP晶体加工表面的亚表面损伤检测与分析[J];光学精密工程;2007年11期
2 孙玉利;左敦稳;朱永伟;布光斌;王鸿翔;;工件旋转式磨削大直径硅片技术的研究进展[J];宇航材料工艺;2006年05期
3 龚勇波;刘娟;沈剑云;徐西鹏;;两种加工方式磨抛SiC陶瓷的对比实验研究[J];超硬材料工程;2005年06期
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 田业冰;大尺寸硅片磨削平整化理论与工艺技术的研究[D];大连理工大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前7条
1 曹先锁;KDP晶体磨削加工表层损伤的检测与分析[D];大连理工大学;2007年
2 马广义;薄硅片材料的激光弯曲试验研究[D];大连理工大学;2007年
3 周波;单晶MgO基片研磨工艺及其损伤研究[D];大连理工大学;2007年
4 吴海洋;固结金刚石线锯的复合电镀工艺研究[D];大连理工大学;2006年
5 张胜利;超精密磨削硅片表层损伤检测的试验研究[D];大连理工大学;2006年
6 龚勇波;三种典型脆性材料的研磨实验研究[D];华侨大学;2006年
7 牛伟光;超硬磨料砂轮的激光修锐试验研究[D];大连理工大学;2006年
【相似文献】
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1 胡才雄;;吸除硅片上杂质金的有效措施[J];上海有色金属;1982年01期
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6 秦国刚;张丽珠;;发可见光的多孔硅[J];微纳电子技术;1992年06期
7 徐冬良;硅材料的目前状况及发展趋势——1992年6月赴美考察情况报告[J];半导体技术;1993年06期
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10 李积和;周子美;陈青松;闵靖;;用外吸除技术消除P型<111>硅片雾缺陷的研究——Ⅰ.背面多晶吸除技术[J];上海有色金属;1993年03期
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1 田艳;赵国忠;;不同掺杂硅片的THz透射光谱研究[A];光电技术与系统文选——中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议论文集[C];2005年
2 王方勇;朱维涛;徐礼春;;基于嵌入式实时操作系统的硅片传输系统设计[A];第三届全国信息获取与处理学术会议论文集[C];2005年
3 吴明明;周兆忠;巫少龙;;单晶硅片的制造技术[A];衢州市自然科学优秀论文选编(2001-2004)[C];2005年
4 李科技;郭体强;;对集成电路用硅抛光片局部平整度的研究[A];第十届中国科协年会论文集(四)[C];2008年
中国重要报纸全文数据库 前10条
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9 本报记者 龙友情;“收缩生存法”的魔力[N];福建日报;2008年
10 小谭;IBM五项创新科技打造未来5年美好生活[N];经理日报;2008年
中国博士学位论文全文数据库 前2条
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2 彭锦雯;原子转移自由基聚合(ATRP)在多功能硅(100)表面改性材料制备中的应用[D];复旦大学;2005年
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1 何晓燕;原子力显微镜观测DNA分子在几种基底表面的吸附及扩展[D];西北师范大学;2005年
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4 司马媛;激光清洗硅片表面颗粒沾污的试验研究[D];大连理工大学;2006年
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6 吴雪兰;纳米SiO_2浆料的分散稳定性能及其对半导体硅片的电化学作用研究[D];中南大学;2005年
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8 许卫星;硅片激光弯曲成形的数值模拟及试验[D];大连理工大学;2008年
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