收藏本站
《计算机研究与发展》 2004年01期
收藏 | 投稿 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

使用双重种子压缩的混合模式自测试

梁华国  蒋翠云  
【摘要】:提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构 为了减少确定测试模式的存储需求 ,它依赖一个双重种子压缩方案 ,采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子 ,压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度 这种建议的内建自测试结构是完全相容于标准的扫描设计 ,简单而具有柔性 ,并且多个逻辑芯核可以共享 实验结果表明 ,这种建议的方案比先前所公布方法需要更少的测试数据存储 ,并且具有相同的柔性和扫描相容性

手机知网App
【引证文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 方祥圣;曹先霞;;系统芯片SOC的BIST测试研究[J];安徽建筑工业学院学报(自然科学版);2006年03期
2 李俊;成立;徐志春;韩庆福;张荣标;张慧;;基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案[J];半导体技术;2007年09期
3 王石记;朱敏;杨春玲;;基于LFSR种子重播的组合电路测试方法研究[J];电子测量技术;2009年12期
4 吴玺;刘军;刘正琼;;内建自测试相移器设计算法的优化[J];电子技术应用;2007年06期
5 欧阳一鸣;成丽丽;梁华国;;一种基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩和解压方法[J];电子学报;2008年02期
6 陈卫兵,刘文艳;折叠控制器的低功耗改进设计[J];电子质量;2005年02期
7 赵明;陈卫兵;;一种新型混合模式BIST的低功耗设计[J];电子质量;2006年05期
8 陈卫兵;;一种基于扫描结构的混合模式BIST的低功耗设计[J];电子质量;2007年12期
9 陈卫兵;赵明;;一种混合模式BIST的低功耗设计[J];国外电子测量技术;2006年02期
10 高紫俊;许晶;;结合TRC和Golomb编码的二维测试数据压缩[J];大庆石油学院学报;2011年03期
中国重要会议论文全文数据库 前6条
1 欧阳一鸣;余健;梁华国;;一种针对多特征序列的测试数据压缩方法[A];第六届全国信息获取与处理学术会议论文集(3)[C];2008年
2 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
3 周彬;叶以正;李兆麟;王志伟;;基于TRC重播种的二维测试数据压缩[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
4 陈田;梁华国;王伟;易茂祥;黄正峰;;基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
5 李松坤;梁华国;吴义成;易茂祥;;一种并行输出的折叠计数器方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
6 吴义成;梁华国;李松坤;黄正峰;易茂祥;;一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
中国博士学位论文全文数据库 前3条
1 邵晶波;SoC测试资源优化方法研究[D];哈尔滨工程大学;2008年
2 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
3 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 方祥圣;系统芯片SOC的逻辑BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
2 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
3 肖祝红;基于测试源划分的系统芯片测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
4 张磊;数字系统测试数据编码压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
5 刘军;基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
6 李扬;基于LFSR重新播种的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
7 祝沈财;基于RAS结构的测试方法研究[D];合肥工业大学;2008年
8 詹凯华;部分向量切分的LFSR重新播种测试方法[D];合肥工业大学;2008年
9 叶益群;基于响应相容及组频率编码的测试数据压缩研究[D];合肥工业大学;2008年
10 吴孝银;基于相容数据压缩的LFSR重新播种方法研究[D];合肥工业大学;2008年
【参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 梁华国,聚贝勒·海伦布昂特,汉斯-耶西姆·冯特利希;一种基于折叠计数器重新播种的确定自测试方案[J];计算机研究与发展;2001年08期
【共引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 方祥圣;曹先霞;;系统芯片SOC的BIST测试研究[J];安徽建筑工业学院学报(自然科学版);2006年03期
2 李俊;成立;徐志春;韩庆福;张荣标;张慧;;基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案[J];半导体技术;2007年09期
3 吴玺;刘军;刘正琼;;内建自测试相移器设计算法的优化[J];电子技术应用;2007年06期
4 刘建军;李铁军;邹立明;;基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成技术[J];电子技术应用;2010年09期
5 欧阳一鸣;成丽丽;梁华国;;一种基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩和解压方法[J];电子学报;2008年02期
6 陈卫兵,刘文艳;折叠控制器的低功耗改进设计[J];电子质量;2005年02期
7 陈卫兵;基于折叠集的混合模式BIST的低功耗设计[J];电子质量;2005年03期
8 赵明;陈卫兵;;一种新型混合模式BIST的低功耗设计[J];电子质量;2006年05期
9 陈卫兵;汤兰;;一种基于FPGA的准单输入跳变序列生成器设计[J];电子质量;2007年10期
10 陈卫兵;;一种基于扫描结构的混合模式BIST的低功耗设计[J];电子质量;2007年12期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 欧阳一鸣;余健;梁华国;;一种针对多特征序列的测试数据压缩方法[A];第六届全国信息获取与处理学术会议论文集(3)[C];2008年
2 张磊;梁华国;陶珏辉;;测试集划分的多扫描链二次测试数据压缩方法[A];计算机技术与应用进展——全国第17届计算机科学与技术应用(CACIS)学术会议论文集(下册)[C];2006年
3 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
4 陶珏辉;梁华国;张磊;;多扫描链测试集的分组标准向量压缩法[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
5 周彬;叶以正;李兆麟;王志伟;;基于TRC重播种的二维测试数据压缩[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
6 蒋翠云;梁华国;陶珏辉;陈田;;测试数据分块字典统计编码压缩法[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
7 王保青;梁华国;詹文法;;组扩展编码在测试数据压缩中的应用[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
8 李松坤;梁华国;吴义成;易茂祥;;一种并行输出的折叠计数器方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
9 吴义成;梁华国;李松坤;黄正峰;易茂祥;;一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
10 李鑫;梁华国;陈田;王伟;易茂祥;;基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案[A];2011中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2011年
中国博士学位论文全文数据库 前4条
1 邵晶波;SoC测试资源优化方法研究[D];哈尔滨工程大学;2008年
2 王义;集成电路低功耗内建自测试技术的研究[D];贵州大学;2009年
3 谈恩民;数字电路BIST设计中的优化技术[D];上海交通大学;2007年
4 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 孟庆;SOC设计中IP核的测试方法与应用[D];浙江大学;2004年
2 孙超超;基于编码和重播种的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
3 方祥圣;系统芯片SOC的逻辑BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
4 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
5 汪峻;针对SOC测试数据压缩的编码方法研究[D];合肥工业大学;2006年
6 徐雨娟;基于多扫描链的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
7 肖祝红;基于测试源划分的系统芯片测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
8 张磊;数字系统测试数据编码压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
9 刘军;基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
10 郭文鹏;基于编码和逆向折叠的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 李俊;成立;徐志春;韩庆福;张荣标;张慧;;基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案[J];半导体技术;2007年09期
2 安晨亮;;故障树原理在故障诊断系统中的应用[J];导弹与航天运载技术;2009年01期
3 胡晨,许舸夫,张哲,杨军;一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成[J];电路与系统学报;2002年03期
4 梁骏,胡海波,张明;逻辑内建自测移相器的设计与优化[J];电路与系统学报;2004年04期
5 杨军;罗岚;;基于TCG图和模拟退火算法的SoC测试调度[J];电路与系统学报;2006年05期
6 胡晨,张哲,史又华,杨军,时龙兴;模拟退火算法在低功耗BIST中的应用[J];东南大学学报(自然科学版);2002年02期
7 王秋彦;鞠建波;宋振宇;;故障诊断技术研究现状及发展趋势[J];电子测量技术;2009年04期
8 段颖妮;;基于FPGA伪随机序列发生器设计[J];电子测量技术;2009年05期
9 吴玺;刘军;刘正琼;;内建自测试相移器设计算法的优化[J];电子技术应用;2007年06期
10 韩银和 ,李晓维 ,徐勇军 ,李华伟;应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法[J];电子学报;2004年08期
中国博士学位论文全文数据库 前2条
1 韩银和;数字电路测试压缩方法研究[D];中国科学院研究生院(计算技术研究所);2005年
2 王伟;VLSI扫描测试中的低功耗测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 徐新河;数字电路可测性算法和C++程序实现[D];电子科技大学;2005年
2 李景平;数字电路与系统可测性测度及计算软件研究[D];电子科技大学;2005年
3 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
4 张菲菲;基于DES理论的数模混合电路的可测试性与故障诊断研究[D];合肥工业大学;2006年
5 徐雨娟;基于多扫描链的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
6 王宏;模拟电路故障诊断故障字典法研究[D];西安电子科技大学;2007年
7 李扬;基于LFSR重新播种的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
8 刘丹;模拟电路故障诊断中故障字典应用的研究[D];华中科技大学;2006年
9 张士刚;基于多信号模型的诊断策略优化与生成技术研究[D];国防科学技术大学;2008年
10 吴樟福;基于信号量特征的模拟电路故障字典法研究[D];华中科技大学;2008年
【二级引证文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 王伟;;一种新型的标准向量差分压缩方法[J];电脑知识与技术;2010年20期
2 刘杰;梁华国;徐三子;;一种基于分块编码和优化排序的测试数据压缩技术[J];电子测量与仪器学报;2009年05期
3 陈卫兵;;一种基于扫描结构的混合模式BIST的低功耗设计[J];电子质量;2007年12期
4 高紫俊;许晶;;结合TRC和Golomb编码的二维测试数据压缩[J];大庆石油学院学报;2011年03期
5 陶丽楠;;基于参考向量和纠错编码的测试数据压缩算法[J];国外电子测量技术;2011年12期
6 梁华国;李鑫;陈田;王伟;易茂祥;;并行折叠计数器的BIST方案[J];电子学报;2012年05期
7 刘杰;梁华国;徐三子;;端标记交替-连续编码测试数据压缩技术[J];合肥工业大学学报(自然科学版);2009年12期
8 周彬;吴新春;叶以正;;二维测试数据压缩的优化[J];计算机研究与发展;2009年04期
9 吴孝银;梁华国;詹凯华;吴义成;李建新;;基于部分相容的动态LFSR重新播种方法[J];计算机工程与应用;2008年18期
10 梁华国;刘军;蒋翠云;欧阳一鸣;易茂祥;;约束输入精简的多扫描链BIST方案[J];计算机辅助设计与图形学学报;2007年03期
中国重要会议论文全文数据库 前3条
1 刘杰;梁华国;项莉萍;;采用循环移位和优化编码的测试压缩方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
2 李松坤;梁华国;吴义成;易茂祥;;一种并行输出的折叠计数器方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
3 吴义成;梁华国;李松坤;黄正峰;易茂祥;;一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
中国博士学位论文全文数据库 前8条
1 陆军;基于组合学的数据编码方法研究[D];哈尔滨工程大学;2010年
2 邵晶波;SoC测试资源优化方法研究[D];哈尔滨工程大学;2008年
3 俞洋;系统芯片测试优化关键技术研究[D];哈尔滨工业大学;2008年
4 詹文法;系统芯片外建自测试技术研究[D];合肥工业大学;2009年
5 王义;集成电路低功耗内建自测试技术的研究[D];贵州大学;2009年
6 方芳;基于片上网络的众核芯片关键测试技术研究[D];合肥工业大学;2010年
7 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
8 邓立宝;SOC测试时间优化技术研究[D];哈尔滨工业大学;2012年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 王志超;基于IP核测试的测试生成研究与仿真设计[D];哈尔滨理工大学;2010年
2 张磊;数字系统测试数据编码压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
3 刘军;基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
4 郭文鹏;基于编码和逆向折叠的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
5 陶珏辉;片上系统SoC测试数据分组压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
6 李扬;基于LFSR重新播种的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
7 时峰;基于扩展前缀和分组的SoC测试数据编码压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
8 肖剑锋;基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法研究[D];湖南大学;2008年
9 詹凯华;部分向量切分的LFSR重新播种测试方法[D];合肥工业大学;2008年
10 叶益群;基于响应相容及组频率编码的测试数据压缩研究[D];合肥工业大学;2008年
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 张惠国;徐彦峰;曹正州;于大鑫;于宗光;;FPGA逻辑资源重配置测试技术研究[J];固体电子学研究与进展;2011年03期
2 谈恩民;詹琰;;结合预确定距离的BIST测试矢量优化[J];微电子学与计算机;2011年09期
3 欧阳一鸣;牛丽义;梁华国;;片上网络通信架构的BIST测试方法[J];电信科学;2011年08期
4 张晓霞;;基于VLC的校园信息发布系统[J];通信技术;2011年07期
5 邵静;;Ps色彩和色调调整实用技术分析[J];软件导刊;2011年06期
6 刘威;王倩;;军用软件自测试实践与分析[J];火力与指挥控制;2011年06期
7 刘文杰;李凤岐;薛强;;混合模式存储系统在网络实验中的应用[J];实验技术与管理;2011年07期
8 蔡楹;杨妹;黄柯棣;;基于混合模式的仿真资源共享[J];系统仿真学报;2011年S1期
9 凡鱼;;一图多调之四季变变变[J];电脑爱好者;2011年02期
10 张志超;侯立刚;吴武臣;;基于March C+算法的SRAM BIST设计[J];现代电子技术;2011年10期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 崔伟;冯建华;;一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
2 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
3 付祥;王达;李华伟;胡瑜;李晓维;;一种嵌入式存储器的内建自修复机制[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
4 朱彦卿;何怡刚;阳辉;刘美容;王玺;;一种高速ADC静态参数的内建自测试结构[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
5 杨婷;邝继顺;;基于测试片段间转移的低功耗BIST实现[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
6 张弘;李康;;一种可编程MBIST结构的设计与实现[A];第20届测控、计量、仪器仪表学术年会论文集[C];2010年
7 杨懿;周瑞华;黄维康;;变长序列重复播种内建自测试方案探讨[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
8 王颖;陈禾;;FFT处理器的内建自测试方法研究[A];2006北京地区高校研究生学术交流会——通信与信息技术会议论文集(上)[C];2006年
9 谈恩民;刘建军;钱文武;施文康;;基于SoC的BIST静态功耗优化设计[A];2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(二)[C];2007年
10 雷加;刘伟;;模数混合信号的可测性设计方法研究[A];中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集[C];2007年
中国重要报纸全文数据库 前10条
1 野云飞;美国居住走向混合模式[N];建筑时报;2002年
2 罗德与施瓦茨中国有限公司 苏民生;1x RTT到1x EV-DO混合模式测试[N];通信产业报;2008年
3 ;巧用PhotoShop,你不再是菜鸟[N];中国计算机报;2005年
4 cpw记者 何冰玉;推行混合模式 华硕加强渠道合作[N];电脑商报;2003年
5 CUBN记者 苏慧;模式陈腐 eBay压力难解[N];中国联合商报;2008年
6 杨禹侠;从单一方案走向混合模式[N];人民邮电;2002年
7 黄岳;雅虎“变脸”[N];电脑报;2006年
8 本报记者  方帅;让利模式带来双赢[N];中国房地产报;2006年
9 李琨;BEA提出SOA四大策略[N];中国计算机报;2006年
10 本报评论员 唐学鹏;建议应采纳混合型的社保体制[N];21世纪经济报道;2006年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
2 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
3 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
4 杨德才;算术运算电路的通路时延故障测试[D];电子科技大学;2008年
5 肖继学;基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究[D];电子科技大学;2007年
6 李杰;低功耗内建自测试(BIST)设计技术的研究[D];东南大学;2004年
7 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
8 詹文法;系统芯片外建自测试技术研究[D];合肥工业大学;2009年
9 朱彦卿;模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D];湖南大学;2008年
10 潘张鑫;或—符合逻辑系统的可测性设计与测试[D];浙江大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 胡少飞;基于MT-6000系统级模拟与验证的技术研究[D];长沙理工大学;2012年
2 程旺燕;基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2010年
3 孟庆;SOC设计中IP核的测试方法与应用[D];浙江大学;2004年
4 彭利勇;基于C/S与B/S混合模式的信息系统研究[D];天津师范大学;2010年
5 陈颖;基于B/S和C/S混合模式开发的人力资源管理系统设计与实现[D];电子科技大学;2010年
6 马俊程;SATA内建自测试的电路设计与实现[D];西安电子科技大学;2007年
7 张力;基于混合模式下IT企业渠道营销的研究[D];北京邮电大学;2007年
8 胡昌桂;基于C/S和B/S混合模式的海事管理信息系统[D];武汉理工大学;2004年
9 郑一凡;混合模式之船舶检验管理信息系统总体方案研究[D];上海海事大学;2005年
10 王景;混合模式接口传感器数字通信系统的研究与设计[D];燕山大学;2011年
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026