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《计算机研究与发展》 2001年08期
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一种基于折叠计数器重新播种的确定自测试方案

梁华国  聚贝勒·海伦布昂特  汉斯-耶西姆·冯特利希  
【摘要】:提出了一种基于扫描自测试的确定与混合模式新方案 ,这种方案依赖于一个新型的模式生成器 ,它主要配备一个可编程的约翰逊计数器 ,称之为折叠计数器 .这种新技术首先使用一个小的线性反馈移位寄存器(L FSR) ,生成伪随机测试模式测试容易测试的故障 ,并且获得一个硬故障测试立方集 T;其次采用经典的输入精简技术 ,集合 T的测试立方宽度可以被压缩 ;最终为了能够找出合理的小数目折叠计数器种子 ,来生成这个确定的测试立方集 T,给出了其理论背景和实用算法 .试验结果表明 ,这个所建议的方案与先前所公布的基于线性反馈移位寄存器和约翰逊计数器的重新播种方法相比 ,具有非常出色的结果 .因此它提供了一种有效的、弹性的基于扫描的自测试解

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【引证文献】
中国期刊全文数据库 前5条
1 陈卫兵,刘文艳;折叠控制器的低功耗改进设计[J];电子质量;2005年02期
2 于静;梁华国;蒋翠云;;基于多扫描链相容压缩的距离标记压缩方法[J];合肥工业大学学报(自然科学版);2006年01期
3 梁华国,蒋翠云;基于交替与连续长度码的有效测试数据压缩和解压[J];计算机学报;2004年04期
4 梁华国,蒋翠云;使用双重种子压缩的混合模式自测试[J];计算机研究与发展;2004年01期
5 梁华国;方祥圣;蒋翠云;欧阳一鸣;易茂祥;;一种选择折叠计数状态转移的BIST方案[J];计算机研究与发展;2006年02期
中国重要会议论文全文数据库 前3条
1 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
2 陶珏辉;梁华国;张磊;;多扫描链测试集的分组标准向量压缩法[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
3 张磊;梁华国;陶珏辉;;测试集划分的多扫描链二次测试数据压缩方法[A];计算机技术与应用进展——全国第17届计算机科学与技术应用(CACIS)学术会议论文集(下册)[C];2006年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 孟庆;SOC设计中IP核的测试方法与应用[D];浙江大学;2004年
2 郭文鹏;基于编码和逆向折叠的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
3 刘军;基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
4 张磊;数字系统测试数据编码压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
5 肖祝红;基于测试源划分的系统芯片测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
6 李扬;基于LFSR重新播种的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
7 陶珏辉;片上系统SoC测试数据分组压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
8 汪峻;针对SOC测试数据压缩的编码方法研究[D];合肥工业大学;2006年
9 徐雨娟;基于多扫描链的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
10 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 胡晨,许舸夫,张哲,杨军;一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成[J];电路与系统学报;2002年03期
2 梁骏,胡海波,张明;逻辑内建自测移相器的设计与优化[J];电路与系统学报;2004年04期
3 李正光,雷加;数字IC可测性设计及其EDA流程[J];电子工程师;2004年04期
4 俞龙江,彭喜源,彭宇;基于蚁群算法的测试集优化[J];电子学报;2003年08期
5 方建平,郝跃,刘红侠,李康;应用混合游程编码的SOC测试数据压缩方法[J];电子学报;2005年11期
6 彭喜元;俞洋;;基于变游程编码的测试数据压缩算法[J];电子学报;2007年02期
7 陈卫兵,刘文艳;折叠控制器的低功耗改进设计[J];电子质量;2005年02期
8 陈萍;潘中良;陈浩;;重新播种的测试方法研究[J];光电子技术与信息;2005年06期
9 李杰,李锐,杨军,凌明;基于部分扫描的低功耗内建自测试[J];固体电子学研究与进展;2005年01期
10 于静;梁华国;蒋翠云;;基于多扫描链相容压缩的距离标记压缩方法[J];合肥工业大学学报(自然科学版);2006年01期
中国博士学位论文全文数据库 前2条
1 韩银和;数字电路测试压缩方法研究[D];中国科学院研究生院(计算技术研究所);2005年
2 王伟;VLSI扫描测试中的低功耗测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前4条
1 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
2 于静;系统芯片SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
3 徐雨娟;基于多扫描链的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
4 李扬;基于LFSR重新播种的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
【二级引证文献】
中国期刊全文数据库 前5条
1 彭喜元;俞洋;;基于变游程编码的测试数据压缩算法[J];电子学报;2007年02期
2 陈卫兵,刘文艳;折叠控制器的低功耗改进设计[J];电子质量;2005年02期
3 于静;梁华国;蒋翠云;;基于多扫描链相容压缩的距离标记压缩方法[J];合肥工业大学学报(自然科学版);2006年01期
4 梁华国;方祥圣;蒋翠云;欧阳一鸣;易茂祥;;一种选择折叠计数状态转移的BIST方案[J];计算机研究与发展;2006年02期
5 于静;梁华国;蒋翠云;;基于测试向量压缩的多核并行测试[J];计算机辅助设计与图形学学报;2007年02期
中国博士学位论文全文数据库 前2条
1 孙国玺;多变异拟子—基因共同进化算法的理论及应用研究[D];华南理工大学;2006年
2 何仙娥;超深亚微米SOC设计IP硬核建模及物理实现关键技术[D];浙江大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 孙超超;基于编码和重播种的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
2 方祥圣;系统芯片SOC的逻辑BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
3 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
4 徐雨娟;基于多扫描链的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
5 范志翔;存储器内建自测试及内核功能测试研究[D];东南大学;2006年
6 肖祝红;基于测试源划分的系统芯片测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
7 张磊;数字系统测试数据编码压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
8 刘军;基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
9 郭文鹏;基于编码和逆向折叠的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2007年
10 陶珏辉;片上系统SoC测试数据分组压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2007年
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 陈田;梁华国;易茂祥;王伟;黄正峰;张敏生;;基于随机访问扫描的低功耗确定性测试方案[J];中国科学技术大学学报;2011年08期
2 ;[J];;年期
3 ;[J];;年期
4 ;[J];;年期
5 ;[J];;年期
6 ;[J];;年期
7 ;[J];;年期
8 ;[J];;年期
9 ;[J];;年期
10 ;[J];;年期
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 李鑫;梁华国;陈田;王伟;易茂祥;;基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案[A];2011中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2011年
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
中国硕士学位论文全文数据库 前7条
1 李松坤;基于折叠计数器的多扫描链SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2011年
2 汪峻;针对SOC测试数据压缩的编码方法研究[D];合肥工业大学;2006年
3 徐雨娟;基于多扫描链的测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2006年
4 方祥圣;系统芯片SOC的逻辑BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
5 祝沈财;基于RAS结构的测试方法研究[D];合肥工业大学;2008年
6 刘军;基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
7 毛蔚;基于状态相关和幂次数划分的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2010年
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