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《计算机研究与发展》 1986年09期
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非定长移位寄存器式内部测试生成器

韩智德  狄玉来  
【摘要】:本文介绍了一种使用非最长周期序列的非定长线性反馈移位寄存器作为数字系统内部测试生成器的方案,并给出了设计这种测试生成器的设计过程和算法。
【作者单位】

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