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《红外与激光技术》 1995年03期
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碲镉汞晶片材料参数评价

吴人齐  
【摘要】:碲镉汞晶片材料参数评价吴人齐(华北光电技术研究所北京100015)本文讨论了HgCdTe晶片材料的几种常规测量方法,认为可用红外透射法测HgCdTe组分x值。该测试方法是非破坏性的,不需要做标准样品,而是根据碲镉汞晶片室温透射谱吸收边微商最大值对应的...
【作者单位】华北光电技术研究所
【分类号】:TN304

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