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《红外与激光工程》 2014年04期
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高光谱成像技术的苹果品质无损检测

孙梅  陈兴海  张恒  陈海霞  
【摘要】:高光谱成像技术把二维成像和光谱技术融为一体,图像技术可全面反映水果的外部品质、表面缺陷及污染等,光谱技术则可用于水果内部品质的检测,能对水果的综合品质进行全面、快速的检测。以苹果为研究对象,得用高光谱成像技术和主成分分析方法分析了苹果的风伤和压伤,对比分析不同光谱区域主成分分析对识别结果的影响,优选出识别光谱区域(550~950 nm)。通过主成分分析根据权重系数,选取了714 nm作为苹果风伤研究的最佳特征波长。

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