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《核电子学与探测技术》 1985年04期
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用半导体探测器测量1.5-60keV的X射线

孙雪瑜  
【摘要】:本文阐述X射线能谱测量用的半导体探测器,对硅与锗X射线探测器进行了比较。扼要介绍了X荧光分析用的探测器的制备方法和性能,分析了影响探测器效率的因素。实际量测了1.5-60keV的X和低能γ射线。对于能量5keV的X射线,探测效率用~(241)Am源刻度,5keV时,用玻璃荧光源测量窗吸收及其他效率损失的标准技术。测量结果与文献发表过的数据进行了比较。
【作者单位】北京核仪器厂

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