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稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论

沈建琪  王乃宁  
【摘要】:在经典Mie散射理论基础上,讨论全方位稳态光散射法激光测粒仪测量粒径的下限及其影响因素,认为通过减小激光测粒仪的系统误差和增大探测的散射角范围,可降低测粒仪的测量下限.

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