R—X键裂能与基团电负性标度(英文)
【摘要】:以作者前文建立的基团电负性(GEN)标度为极性参数,研究了基团电负性与有机物键裂能的关系,从而建立了一个几乎可以计算任何有机物键裂能的简单方法:DH°(R—X)=DH°(CH_3-X)十(11.54M_R-0.52)X_G-37.28M_R+1.82式中,R为烷基;X可以是OH、CI、NH_2、CHO、OCH_3、Br、SH、SMe、CH_2OH、CH_2CI、CH_2CN、CH_2OCH_3、CH_2CH_3、I、CH_3、Et、i-Pr、t-Bu、n-Pr、n-Bu、CH_2=CH-CH_2、CH_2=CH-CH_2、CO_2H、COCH_3或其它基团,X_G是基团X的基因电负性,M_R是与烷基R的结构因素相关的常数.计算的126个可比较值的平均偏差只有±2.53KJ/mol(±0.6Kcal/mol).
【相似文献】 | ||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||||||||
|