收藏本站
收藏 | 投稿 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

设计中的内置自测试设计与测试专家论内置自测试

梁超  时万春  王玉卿  
【摘要】:虽然内置自测试(built-in-self-test简写为BIST)已探讨了近25年,但直到最近使用它的用户才有所增长。过去只有集成系统行业内的公司才觉得有使用BIST的必要,如ATT和IBM等。现在小一些的公司,象Level One通讯和Stratus计算机公司也已决定采用BIST,而且从事EDA的公司也正着手引入BIST工具。 现有的BIST能满足用户需求吗?有些什么样的解决方案?我们如何使用BIST工具?还希望BIST有什么新的应用?为了回答这些问题,设计与测试杂志于1997年在加州召开了设计自动化会议,邀请了一些工具开发人员、用户和科研人员出席。

知网文化
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前20条
1 刘威;王倩;;军用软件自测试实践与分析[J];火力与指挥控制;2011年06期
2 田泽;李娜;程国建;;飞行控制系统中Mil-1394b仿真节点实现[J];电脑知识与技术;2011年13期
3 李嘉庆;;微机常见故障排除与日常维护保养[J];实验技术与管理;1993年03期
4 ;[J];;年期
5 ;[J];;年期
6 ;[J];;年期
7 ;[J];;年期
8 ;[J];;年期
9 ;[J];;年期
10 ;[J];;年期
11 ;[J];;年期
12 ;[J];;年期
13 ;[J];;年期
14 ;[J];;年期
15 ;[J];;年期
16 ;[J];;年期
17 ;[J];;年期
18 ;[J];;年期
19 ;[J];;年期
20 ;[J];;年期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 王伟征;邝继顺;尤志强;刘鹏;;一种基于扫描子链轮流扫描捕获的低费用BIST方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
2 谈恩民;张勇;;一种新型的可编程存储器BIST设计[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年
3 吴义成;梁华国;李松坤;黄正峰;易茂祥;;一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
4 李鑫;梁华国;陈田;王伟;易茂祥;;基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案[A];2011中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2011年
5 汪滢;辛晓宁;王宏;马纪虎;;BIST技术及其在Memory中的应用[A];首届信息获取与处理学术会议论文集[C];2003年
6 姜岩峰;鞠家欣;张晓波;杨兵;于韶光;;基于模拟集成电路BIST的ARMA模块设计[A];第十九届测控、计量、仪器仪表学术年会(MCMI'2009)论文集[C];2009年
7 杜社会;何怡刚;;基于BIST的动态可重构FPGA的延时故障测试方法[A];第二十届电工理论学术年会论文集[C];2008年
8 王宗青;徐拾义;;基于软件内建自测试模板内容的研究[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
9 杨艳芳;徐拾义;;基于BIST软件测试思想的单元测试框架的研究[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
10 李金凤;汪滢;辛晓宁;;BIST可测性设计的低功耗技术[A];首届信息获取与处理学术会议论文集[C];2003年
中国博士学位论文全文数据库 前8条
1 谈恩民;数字电路BIST设计中的优化技术[D];上海交通大学;2007年
2 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
3 张金林;SoC的层次式测试方法研究[D];华中科技大学;2007年
4 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
5 张弘;面向系统芯片测试的设计优化技术研究[D];西安电子科技大学;2004年
6 王义;集成电路低功耗内建自测试技术的研究[D];贵州大学;2009年
7 曹贝;SoC低功耗测试技术和温度意识测试规划研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
8 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 刘洁;基于嵌入式DLL的BIST设计[D];西安电子科技大学;2010年
2 徐越;应用于混合信号集成电路BIST的模拟信号发生器[D];西安电子科技大学;2011年
3 刘静;边界扫描测试算法和BIST技术的研究与实现[D];南京航空航天大学;2010年
4 张焜琨;基于BIST的FPGA内部延时故障测试方法的研究与应用[D];西安电子科技大学;2011年
5 方祥圣;系统芯片SOC的逻辑BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
6 李文琦;高性能Memory BIST设计实例[D];上海交通大学;2007年
7 肖莹莹;基于March C-算法的SRAM测试设计与实现[D];大连海事大学;2007年
8 蔡冬玲;基于遗传—折叠计数的低功耗确定BIST研究[D];哈尔滨工程大学;2009年
9 段军棋;基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[D];电子科技大学;2004年
10 阳习书;基于NiosⅡ内核的板级BIST测控技术研究[D];电子科技大学;2011年
中国重要报纸全文数据库 前10条
1 中科院计算技术研究所 张 伸;在设计中引入测试理念[N];计算机世界;2004年
2 何俊山;IC自动测试系统关键技术[N];中国电子报;2000年
3 美国Credence公司董事长 Graham Siddall;现代高级集成电路设计—测试综合策略的构建[N];中国企业报;2002年
4 南通富士通微电子有限公司 曹清波;IC测试新要求:两高两低[N];中国电子报;2004年
5 李少林;AVS肩负特殊使命[N];中国电子报;2003年
6 本报记者 张峰;销售=卖人?[N];网络世界;2003年
7 龚永林;印制板与安装技术的最新课题[N];中国电子报;2004年
8 大锋;火眼金睛辨网线[N];中国电脑教育报;2003年
9 记者 于博;天瀚独步无线手写市场[N];电子资讯时报;2005年
10 石艳军;网络“艾滋专家”手记[N];健康报;2002年
中国知网广告投放
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62982499
  • 010-62783978