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BIST增强IC的可测性

丹·罗曼西克  吴行军  
【摘要】:正 随着ICS越来越复杂,对其进行测试变得越来越困难。复杂的时序电路,如微处理器,可能需要数百万条测试矢量来检测故障。对有些电路,如片内RAM,生成和运行传统的测试矢量几乎是不可能的。用大量的测试矢量进行测试意味着很长的测试时间和很高的测试费用。

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