用Z扫描法测量a-Si/SiO_2多量子阱材料非线性折射率
【摘要】：利用Ｚ扫描法和波长为０．５３ μｍ 、脉宽为１０ ｎｓ的调Ｑ－Ｎｄ∶ＹＡＧ激光器测量了ａ－Ｓｉ／ＳｉＯ２ 多量子阱材料的三阶非线性折射率。并对该材料光学非线性的产生机理作了探讨
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