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AS169微波开关电路的失效原因分析

来萍  李萍  郑廷圭  
【摘要】:本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析。采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列技术手段,成功地确定了样品的失效原因是:在装配和测试阶段因静电放电(ESD)而导致电路损伤和失效。

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1 来萍,李萍,郑廷圭;AS169微波开关电路的失效原因分析[J];电子质量;2003年08期
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