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《电子显微学报》 1995年01期
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扫描隧道显微镜中的能谱分析

吴锦雷  
【摘要】:本文探讨了扫描隧道显微镜中的样品成分分析问题,提出了分析元素的方案。认为二极式结构的俄歇电子出现势谱具有很好的前景,本文对二极式结构的俄歇电子出现势谱的实验作了介绍,并提出了提高其性能的一些方法使它具有应用的可能。
【作者单位】北京大学无线电电子学系
【分类号】:TN16

【共引文献】
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