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基于蚁群算法的测试集优化

俞龙江  彭喜源  彭宇  
【摘要】:电路集成度和复杂度的不断增加使电路故障诊断变得愈加困难 .其中 ,测试集优化问题是电路故障诊断的关键问题之一 .本文以新颖的蚁群算法为基础 ,较好地解决了测试集的优化问题 ,并通过实验证明了该算法的良好性能 .

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