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自动测试系统及智能测试技术讲座——第一讲 概况

过元恺  
【摘要】：正 一、仪器仪表发展的趋势五十年代以前的仪器仪表都是符合某一性能要求的单个仪表.当时人们致力于研究仪表本身的性能,提高灵敏度,扩展量程,提高精确度等.使得仪表从简单变成复杂,对元器件要求也愈来愈高,因此仪表的造价也成倍地增加. 六十年代,随着无线电电子学、自动控制、宇航、以及军事工业的发展,测试项目越来越多,测试速度要求越来越快,连续地实时地显示及处理大量的测试数据.使得用人工控制单个的测试仪表已无法胜任.于是自动测试技术,就提到了议事日程上来,即如何能在很短的时间内,同时或实时处理许多项目的许多数据.

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