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《电子测量技术》 2005年05期
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新型VLSI直流参数自动测试系统

马秀莹  刘明亮  高剑  
【摘要】:文中基于测试器件AD5520和测量放大器AD524,设计并实现超大规模集成电路直流参数自动测试系统,该系统具有结构紧凑,编程灵活等特点。实际应用表明,该系统自动化程度高,测试精度高,可靠性好。
【作者单位】
【分类号】:TM933.1

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【引证文献】
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1 李东凯;刘子宽;;模拟集成电路直流参数测试[J];电子测试;2010年10期
【同被引文献】
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【二级引证文献】
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1 宋涛;张斌;罗倩倩;;基于光电传感器的防盗报警系统[J];电子测试;2011年02期
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4 ;IT产业龙头当空舞[N];计算机世界;2002年
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