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IEEE 1149.1标准与边界扫描技术

于宗光  
【摘要】：本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略。

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2 中证研究中心 陈衍鹏;金融IC卡推广加速[N];中国证券报;2011年
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