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《低温与超导》 2018年04期
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低温光学系统漏热测试方法及试验研究

刘恩光  陆燕  吴亦农  
【摘要】:低温组件的漏热量准确测试对低温光学系统的设计有着重要影响。以工作温度为200K的干涉仪光学组件为研究对象,建立了一套漏热测试方法和热控方案,简化了辐射换热计算过程,通过对热真空试验数据的分析计算出了各项漏热值,分析了影响漏热的主要因素和主要漏热部位,给出了减小系统漏热的改进方案。
【作者单位】中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院大学
【分类号】:TH74

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