La_(2-x)Sr_xCuO_4体系正常态的低温反常输运与载流子的局域化
【摘要】：对 L a2 - x Srx Cu O4 系列 (x =0 .0 6～ 0 .2 0 )样品的电阻率和霍尔系数等输运特性进行了系统研究。电阻率随温度变化的实验结果表明 ,对低掺杂样品 ,在正常态区域 (T Tc) ,随 Sr掺杂量的增加 ,各样品在低温区超导转变温度附近均发生了金属 -绝缘体转变 ,且转变温度 TMI 随掺杂量的增加逐渐降低 ;对于最佳掺杂样品 ,其金属 -绝缘体转变行为变得非常不明显 ,到 x =0 .18时完全消失。对正常态样品的霍尔系数而言 ,随温度的降低逐渐增大 ,且随 Sr掺杂量的增加显示减小。表明载流子浓度随掺杂量的增加而增加。在低掺杂时 ,接近 Tc的温区内霍尔系
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