普通型与矮生型梨叶片显微结构比较
【摘要】：应用扫描电镜和石蜡切片方法,对普通型和矮生型梨叶片的显微结构进行比较分析.结果表明:普通型和矮生型梨的叶片上表皮均有大量蜡质分布,气孔均分布在叶片下表皮,而矮生型蜡质层更厚.普通型和矮生型梨气孔器平均长轴×短轴分别为25.42μm×19.39μm和29.52μm×16.85μm,气孔平均长×宽分别为17.73μm×5.37μm和20.59μm×4.07μm;普通型和矮生型梨的叶片厚度平均值分别为196.35和227.99μm,栅栏组织厚度平均值分别为54.93和79.13μm,栅栏组织/海绵组厚度比平均分别为0.80和1.16.可见,野生型梨的叶片表皮蜡质层更厚,气孔更狭长,开度更小,叶片厚度和栅栏组织厚度显著较大,栅海比大于1,表现出抗旱耐寒的叶片结构特征.
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张妤艳;俞明亮;马瑞娟;蔡志翔;沈志军;许建兰;;与桃树性高/矮性状相关的SRAP标记[J];果树学报;2011年04期 |
| 2 |
付镇芳;孟颢光;张朝红;王跃进;;‘砀山酥’梨叶片再生体系的建立[J];北方园艺;2011年14期 |
| 3 |
刘文荣;赵佳艳;王小举;;果树上如何使用多效唑[J];河北果树;2011年03期 |
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