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《电路与系统学报》 2004年04期
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逻辑内建自测移相器的设计与优化

梁骏  胡海波  张明  
【摘要】:逻辑内建自测(Logic BIST)测试结构是今后系统芯片(SOC)设计中芯片测试的发展方向。由于LFSR(线性反馈移位寄存器)生成的伪随机序列的高相关性导致故障覆盖率达不到要求,采用移相器可以降低随机序列的空间相关性,提高Logic BIST的故障覆盖率。本文分析了移相器的数学理论并提出了移相器设计与优化算法。该算法可以得到最小时延与面积代价下的高效移相器。
【作者单位】浙江大学信电系 浙江大学信电系 浙江大学信电系
【分类号】:TN401

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【引证文献】
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【共引文献】
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【二级引证文献】
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