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《电路与系统学报》 2004年03期
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数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展

于云华  石寅  
【摘要】:IC制造工艺的发展,持续增加着VLSI电路的集成密度,亦日益加大了电路故障测试的复杂性和困难度。作者在承担相应研究课题的基础上,综述了常规通用测试方法和技术,并分析了其局限性。详细叙述了边界扫描测试(BST)标准、可测性设计(DFT)思想和内建自测试(BIST)策略。针对片上系统(SoC)和深亚微米(VDSM)技术给故障测试带来的新挑战,本文进行了初步的论述和探讨。

【引证文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 安治永;李应红;苏长兵;;航空电子设备故障诊断技术研究综述[J];电光与控制;2006年03期
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 吴丽华;数字集成电路多故障测试生成算法和可测性设计的研究[D];哈尔滨理工大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前6条
1 项傅佳;集成电路多故障测试生成算法及可测性设计的研究[D];哈尔滨理工大学;2007年
2 邓晓茜;数字系统动态电流IDDT测试技术研究[D];南京航空航天大学;2007年
3 邓禹丹;数字电路测试生成平台研究与可测性设计的应用[D];南京航空航天大学;2007年
4 王轸;基于遗传优化的三值神经网络测试生成算法[D];哈尔滨理工大学;2007年
5 冯蕊;LC82380电路的测试技术研究[D];哈尔滨理工大学;2006年
6 倪军;数字电路板边界扫描故障诊断与无误判抗混淆优化算法研究[D];江苏大学;2007年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 徐建斌,李智;神经网络在组合电路故障模拟测试生成算法中的应用[J];电路与系统学报;2001年04期
2 陈朝阳,丁明跃;基于神经网络测试码生成的一个鲁棒算法[J];华中理工大学学报;1999年09期
3 金娜,姚秀华;数字集成电路的可测性设计及其应用[J];微处理机;1998年02期
4 魏道政;产生功能级数字电路测试码的一种算法——主路径敏化法[J];计算机学报;1982年02期
5 梁玉英,蔡金燕,封吉平,黄允华;组合逻辑多故障诊断[J];微电子学;2000年03期
6 刘峰;梁勇强;;大规模集成电路可测性设计及其应用策略[J];玉林师范学院学报;2005年05期
7 焦慧芳,贾新章,王群勇;基于小波分析的CMOS电路I_(DDT)故障诊断新技术[J];电子产品可靠性与环境试验;2005年01期
8 朱启建,邝继顺,张大方;一种动态电流测试产生方法的SPICE模拟验证[J];电子学报;2002年08期
9 张月,李华伟,宫云战,李晓维;针对串扰引起的时延故障的测试产生[J];计算机辅助设计与图形学学报;2004年10期
10 李楠;基于模拟系统响应的小波变换故障诊断方法的仿真研究[J];计算机仿真;2001年06期
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 许川佩;时序电路测试生成算法研究[D];西安电子科技大学;2006年
【二级引证文献】
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 赵广燕;孙宇锋;;EDA仿真在电路故障诊断中的应用[A];大型飞机关键技术高层论坛暨中国航空学会2007年学术年会论文集[C];2007年
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1 周津慧;重大设备状态检测与寿命预测方法研究[D];西安电子科技大学;2006年
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1 易晖;电子设备智能故障诊断系统的研究[D];燕山大学;2006年
【相似文献】
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1 瞿于福;;逻辑设计的一个新领域—可测性设计[J];军事通信技术;1987年03期
2 刘家松,刘承玺,郑晖,王顺民;印制电路板的可测性设计问题[J];仪表技术与传感器;1990年03期
3 李艳;童诗白;;基于可观概念的系统故障可测性研究[J];自动化学报;1990年03期
4 江山;CSC-71018电路的可测性设计[J];微电子学;1991年06期
5 郭卓梁;沈森祖;;集成电路测试程序的可测性设计[J];电子测量与仪器学报;1991年03期
6 穆莱;;首届可测性设计研讨会在北京举行[J];电测与仪表;1993年02期
7 陈庆方,戴昌培;数模混合集成电路的可测性设计[J];电子测量与仪器学报;1994年02期
8 叶波,郑增钰;单链扫描可测性设计中存储元件的排序[J];微电子学;1995年03期
9 叶波,郑增钰;扫描法可测性设计中扫描触发器的最优实现[J];微电子学;1995年06期
10 ;将可测性设计时间缩短10倍 Test Compiler 3.4a[J];微电子测试;1996年01期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 李金凤;汪滢;辛晓宁;;BIST可测性设计的低功耗技术[A];首届信息获取与处理学术会议论文集[C];2003年
2 钟治平;徐拾义;;程序插装技术在软件内建自测试中的应用[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
3 鲁巍;杨修涛;李晓维;;基于JTAG标准的边界扫描结构在一款通用CPU中的设计[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
4 杨修涛;鲁巍;李晓维;;存储器内建自测设计与分析[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
5 王宗青;徐拾义;;基于软件内建自测试模板内容的研究[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
6 王晓宇;徐拾义;;基于模块关系图的测试程序生成[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
7 刘杰;梁华国;;基于末端倒置的PLA可测性设计[A];全国第13届计算机辅助设计与图形学(CAD/CG)学术会议论文集[C];2004年
8 杨艳芳;徐拾义;;基于BIST软件测试思想的单元测试框架的研究[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
9 檀彦卓;徐勇军;韩银和;李华伟;李晓维;;面向存储器核的内建自测试[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
10 李吉;徐勇军;韩银和;李晓维;;应用于逻辑核的BIST关键技术研究[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
中国重要报纸全文数据库 前7条
1 魏少军;IP核的生成及复用[N];中国电子报;2002年
2 魏少军;系统集成芯片设计方法学发展方向[N];中国电子报;2002年
3 本报记者 宋明霞;龙芯、龙腾合奏中国IT业新乐章[N];市场报;2002年
4 北京自动测试技术研究所 张东 张生文;IC测试业:向产业化迈进[N];中国电子报;2003年
5 记者 金振蓉;自主知识产权CPU测试系统芯片问世[N];光明日报;2003年
6 中科院计算技术研究所 张志敏;SoC引领嵌入式系统发展[N];计算机世界;2004年
7 本版编辑 北京自动测试技术研究所所长 张东 肖钢;测试业:主体已形成 品种待丰富[N];中国电子报;2006年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 李涛;高性能数字信号处理器的研究与设计[D];西北工业大学;2002年
2 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
3 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
4 张弘;面向系统芯片测试的设计优化技术研究[D];西安电子科技大学;2004年
5 郑德春;DSP可测性、测试方法和平台的研究[D];浙江大学;2005年
6 刘歆;数字电路的故障测试模式生成方法研究[D];华中科技大学;2004年
7 周锦锋;低功耗MP3解码器设计及其可测性分析[D];中国科学院研究生院(计算技术研究所);2003年
8 李杰;低功耗内建自测试(BIST)设计技术的研究[D];东南大学;2004年
9 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
10 潘张鑫;或—符合逻辑系统的可测性设计与测试[D];浙江大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 舒昶;特种芯片集成中的可测性设计[D];中国科学院研究生院(电子学研究所);2002年
2 朱小莉;DSPC50的可测性设计及电路实现[D];湖南大学;2003年
3 高树静;嵌入式微处理器可测性设计研究与实现[D];青岛大学;2003年
4 孟庆;SOC设计中IP核的测试方法与应用[D];浙江大学;2004年
5 黎宝峰;嵌入式DSP处理器的设计与验证[D];湖南大学;2003年
6 陈治国;集成电路低功耗测试方法研究[D];电子科技大学;2004年
7 段军棋;基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[D];电子科技大学;2004年
8 孙媛媛;FPGA的边界扫描测试方法研究[D];哈尔滨工程大学;2004年
9 刘杰;基于与或阵列结构的可编程逻辑器件的可测性设计研究[D];合肥工业大学;2004年
10 张永光;芯片设计中的可测试性设计技术[D];浙江大学;2005年
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