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《电化学》 2004年01期
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电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底

刘进轩  向娟  田中群  毛秉伟  
【摘要】: 应用电沉积方法制备两种低粗糙度、具有导电/绝缘交接结构的测量基底—Au/CuO和HOPG/CuO,并在带导电针尖的原子力显微测量(CT_AFM)平台上建立了简便的一维纳米材料轴向电子输运性质测量方法.在大气室温条件下,对组装在两种基底上的单束碳纳米管轴向电学性质进行了定性测量,结果表明,该碳纳米管呈现金属性.

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1 刘进轩,向娟,田中群,毛秉伟;电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底[J];电化学;2004年01期
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